На бирже курсовых и дипломных проектов можно найти образцы готовых работ или получить помощь в написании уникальных курсовых работ, дипломов, лабораторных работ, контрольных работ, диссертаций, рефератов. Так же вы мажете самостоятельно повысить уникальность своей работы для прохождения проверки на плагиат всего за несколько минут.

ЛИЧНЫЙ КАБИНЕТ 

 

Здравствуйте гость!

 

Логин:

Пароль:

 

Запомнить

 

 

Забыли пароль? Регистрация

Повышение уникальности

Предлагаем нашим посетителям воспользоваться бесплатным программным обеспечением «StudentHelp», которое позволит вам всего за несколько минут, выполнить повышение уникальности любого файла в формате MS Word. После такого повышения уникальности, ваша работа легко пройдете проверку в системах антиплагиат вуз, antiplagiat.ru, etxt.ru или advego.ru. Программа «StudentHelp» работает по уникальной технологии и при повышении уникальности не вставляет в текст скрытых символов, и даже если препод скопирует текст в блокнот – не увидит ни каких отличий от текста в Word файле.

Результат поиска


Наименование:


Реферат Аккустические методы, основанные на применении колебаний звукового, ультразвукового диапазонов. Резонансный метод ультразвукового контроля. Метод капиллярного проникания индикаторных жидкостей. Стадии процесса электролиза. Условие определения дефектности.

Информация:

Тип работы: Реферат. Предмет: Схемотехника. Добавлен: 03.02.2009. Сдан: 2009. Уникальность по antiplagiat.ru: --.

Описание (план):


Министерство образования Республики Беларусь
Белорусский государственный университет информатики и
радиоэлектроники
кафедра РЭС
РЕФЕРАТ
на тему:
«Акустические и капиллярные методы контроля РЭСИ. Электролиз (пузырьковый метод)»
МИНСК, 2008
Акустические методы
Акустические методы основаны на применении колебаний звукового и ульт-развукового диапазонов от 50 Гц до 50 МГц.
В ГОСТ 238229 приводится подробная классификация акустических методов и приборов неразрушающего контроля материалов и изделий. Наиболее широ-кое применение в настоящее время получила ультразвуковая дефектоскопия и в частности методы: прошедшего излучения (теневой метод), резонансного и от-раженного излучения (эхо-метод).
Метод прошедшего излучения (теневой метод) заключается в том, (см. рис. 1, а) что с одной стороны контролируемого изделия (8) при помощи излучателя (6) вводят ультразвуковые колебания (УЗК), а с другой стороны -- при помощи приемника (7) регистрируют интенсивность прошедших колебаний. При посто-янной толщине и однородном материале контролируемого изделия уровень ин-тенсивности УЗК, падающих на приемник, почти постоянен, а показания инди-катора будут незначительно колебаться около некоторого определенного значе-ния, которое принимают за исходное.
Если на пути УЗК встречается дефект, то часть ультразвуковой энергии отра-зится от него и интенсивность колебаний, падающих на приемник, резко умень-шится, т. е. на головку приемника падает тень от дефекта. Для применения теневого метода необходим двусторонний доступ к контролируемому изделию, что является недостатком метода.
Резонансный метод ультразвукового контроля (рис.1,6) основан на возбуж-дении в объекте стоячих волн, возникающих в результате интерференции вво-димых в объект упругих колебаний и колебаний, отраженных от раздела «объект-воздух» или другой среды. Это возможно при условии получения резонанса вслед-ствие совпадения собственной частоты объекта и частоты возбуждаемых в нем упругих колебаний. Момент достижения резонанса фиксируют по импульсам на экране блока регистрации резонансов (4).
Данный метод применяют в основном для измерения толщины изделий с од-носторонним доступом, а также для выявления неоднородностей в биметаллах, расслоений в многослойных изделиях и зонах межкристаллической коррозии.
Эхо-метод ультразвуковой дефектоскопии получил наиболее широкое при-менение. Он основан на введении в контролируемый объект при помощи излу-чателя (1) (рис.3.3,в) коротких импульсов УЗК и регистрации (блоком индика-ций) интенсивности и продолжительности прихода эхо-сигналов, отряженных
Рисунок 1 - Схемы ультразвукового контроля
а - метод прошедшего излучения (теневой); б - резонансный метод; в - эхо-метод; 1 - блок генератора; 2 - блок усилителя; 3 - блок индикатора;
4 - блок регистрации резонансов; 5 - демпфер;
6 - излу-чатель; 7 - демпфер приемной головки;
8 - контролируемый объект;
9 - дефект.
от дефектов. УЗК, встречающие на своем пути дефекты (поры, расслоения, тре-щины, структурную неоднородность и т.д.), частично отражаются и в виде эха попадают обратно на головку излучателя. Остальная часть колебаний достигает противоположной стороны контролируемого объекта, отражается от раздела объект-воздух или другой среды, и также как эхо, попадает на головку излучате-ля. При этом отраженные от дефекта УЗК возвращаются раньше, чем от проти-воположной стороны объекта, поэтому вначале на экране дефектоскопа появля-ется импульс от дефекта (ДЕФ), а затем от противоположной стороны объекта (донный сигнал Д). На экране они располагаются один за другим на расстоя-нии, соответствующим продолжительности их возвращения. Измеряя промежу-ток времени от момента посылки импульса (начальный сигнал Н) до момента приема эхо-сигнала (донного сигнала Д) определяют расстояние до дефекта. По амплитуде эхо-сигнала судят о размерах дефекта. На передней панели дефектос-копа для этого имеется шкала, отградуированная в сантиметрах.
Критерием отбраковки при контроле служит амплитуда эхо-сигнала, а также условные глубина и ширина дефекта. Минимальные размеры выявленных де-фектов по глубине -- 0,1... 0,3 мм и по ширине -- 0,001... 0,003 мм.
Капиллярные методы
Методы основаны на капиллярном проникании индикаторных жидкостей (пенетрантов) в полости поверхностных, сквозных несплошностей контроли-руемого изделия и регистрации образующихся индикаторных следов визуаль-но или с помощью преобразователя. Капиллярные методы устанав-ливаются ГОСТ 18442-80 и их широко применяют для контроля изделий.
Схема процесса капиллярного цветового МНК приведена на рис.2. На по-верхность контролируемого изделия наносят специальную жидкость с большой смачивающей способностью, предварительно добавляя в нее в каче-стве индикатора люминофор (люминесцентный метод) или краситель (цветной метод). После определенной выдержки, для проникновения индикаторной жидкости в дефекты, ее остатки удаляют с поверхности изде-лия промывкой водой специальными очищающими составами или продувкой газопорошковой струей. Продолжительность выдержки изделия в индикатор-ной жидкости определяют по формуле:
где
ф - время выдержки;
з - коэффициент вязкости жидкости;
- расстояние, на которое жидкость проникает в полость дефекта;
у - поверхностное натяжение;
А - раскрытие дефекта;
и - угол смачивания.
К контролируемому изделию предъявляются следующие требования:
чистота обработки поверхности изделия должна быть не менее >V5;
материал изделия должен быть непористым и стойким к воздействию органических растворителей;
форма и размеры контролируемых изделий могут быть любыми и состоять из черных и цветных металлов, пластмасс, стекла и керамики.
Рисунок 2 - Схема процессов капиллярного цветового метода.
а) изделие очищено от загрязнений;
б) на поверхность изделия нанесена проникающая в дефекты индикаторная жидкость «и» (пенетрант);
в) с поверхности изделия удалены излишки прони-кающей жидкости;
г) нанесен тонкий слой проявителя и остав-шаяся в дефекте жидкость окрашивает проявитель или флуорес-цирует над дефектом.
Метод позволяет контролировать также объекты, изготовленные из ферро-магнитных материалов, если их магнитные свойства, форма, вид и месторас-положение дефектов в них не позволяют достигать требуемой чувствительно-сти магнитопорошковым или ферромагнитным методами.
Капиллярные методы подразделяются на четыре класса чувствительности (таблица 1).
Таблица 1
Классы чувствительности капиллярных МНК.
Класс чувствительности капиллярных МНК
Минимальный размер (раскрытие дефектов), мкм
1
Менее 1
2
1 - 10
3
10 - 100
4
100 - 500
технологический
не нормируется
Обозначение обнаруженных дефектов:
II - параллельный главной оси объекта,
L - перпендикулярный к оси объекта,
< - расположенные под углом,
А - единичные, Б - групповые, В - повсеместно распределенные,
О - допустимые, без знака - недопустимые,
* - сквозные дефекты.
Пример обозначения дефектов:
AII - дефект единичный, допустимый, сквозной, расположенный парал-лельно главной оси об и т.д.................


Перейти к полному тексту работы



Смотреть похожие работы


* Примечание. Уникальность работы указана на дату публикации, текущее значение может отличаться от указанного.