На бирже курсовых и дипломных проектов можно найти образцы готовых работ или получить помощь в написании уникальных курсовых работ, дипломов, лабораторных работ, контрольных работ, диссертаций, рефератов. Так же вы мажете самостоятельно повысить уникальность своей работы для прохождения проверки на плагиат всего за несколько минут.

ЛИЧНЫЙ КАБИНЕТ 

 

Здравствуйте гость!

 

Логин:

Пароль:

 

Запомнить

 

 

Забыли пароль? Регистрация

Повышение уникальности

Предлагаем нашим посетителям воспользоваться бесплатным программным обеспечением «StudentHelp», которое позволит вам всего за несколько минут, выполнить повышение уникальности любого файла в формате MS Word. После такого повышения уникальности, ваша работа легко пройдете проверку в системах антиплагиат вуз, antiplagiat.ru, etxt.ru или advego.ru. Программа «StudentHelp» работает по уникальной технологии и при повышении уникальности не вставляет в текст скрытых символов, и даже если препод скопирует текст в блокнот – не увидит ни каких отличий от текста в Word файле.

Результат поиска


Наименование:


Реферат Оптических система. Оптические характеристики приборов и деталей: вершинные фокусные расстояния, фокусные расстояния, рабочие расстояния. Обработка деталей оптических приборов. Определение фотографической разрешающей силы. Окуляр-микрометр. Коллиматор.

Информация:

Тип работы: Реферат. Предмет: Схемотехника. Добавлен: 22.11.2008. Сдан: 2008. Уникальность по antiplagiat.ru: --.

Описание (план):


БЕЛОРУССКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ИНФОРМАТИКИ И РАДИОЭЛЕКТРОНИКИ
Кафедра электронной техники и технологии
РЕФЕРАТ
На тему:
«Измерение фокусных, вершинных фокусных и рабочих расстояний оптических систем»
МИНСК, 2008
В процессе изготовления ЭОС приборов осу-ществляется контроль их оптических характеристик. Остановимся на некоторых из них, в частности, на определении фокусных рас-стояний f', вершинных фокусных расстояний S'F и рабочих рас-стояний А, т.е. расстояний от опорного торца оправы системы до фокальной плоскости.
Вершинные фокусные расстояния обычно контролируют при изготовлении отдельных и склеенных линз.
Фокусные расстояния проверяют в более сложных оптиче-ских системах, например, в объективах.
Рабочие расстояния измеряют в тех случаях, когда нужно знать расположение фокуса объектива относительно его опор-ного торца для последующего соединения испытуемой системы с какой-либо другой оптической или механической системой (рис.1).
В отличие от вершинных фокусных расстояний рабочее рас-стояние объектива можно изменять подрезкой опорного торца оправы или какого-либо промежуточного торца. Методику изме-рения указанных параметров выбирают в зависимости от поставленной в каждом конкретном случае задачи.
При контроле изготовления некоторых оптических деталей необходимо сравнивать измеренные и расчетные вершинные фокусные расстояния.
В чертежах на оптические детали обычно приводятся вели-чины фокусных расстояний и вершинных фокусных расстояний для параксиальных лучей, т. е. лучей, достаточно близких к оп-тической оси, для монохроматического света для линии нат-рия D ( = 589,3 нм). Поэтому при измерении целесообразно диафрагмировать контролируемые детали, пропуская сквозь них узкие центральные пучки монохроматического света, создаваемого, например, с помощью интерференционного фильтра. Это особенно существенно при измерении несклеенных деталей, у которых сферическая и хроматическая аберрации весьма велики.
При определении фокусного расстояния и рабочего расстояния оптических систем целесообразно за положение фокальной пло-скости принимать плоскость, в которой получается наилучшее изображение, соответствующее наилучшему распределению энер-гии в изображении точки.
Местоположение этой плоскости зависит от остаточных аберра-ций системы и от применяемых при измерениях источников света и приемников излучений.
Поэтому при подобных измерениях, если это не обусловлено специальными требованиями, желательно контролируемую си-стему не диафрагмировать, а источник света и приемник излуче-ний подбирать так, чтобы их спектральные характеристики были близки к тем, которые имеют место в реальных условиях эксплуатации, в противном случае необходимо учитывать соответствующую разницу в положениях фокальной плоскости.
Например, при переходе от рабочего расстояния объектива, измеренного визуальным или фотоэлектрическим методом к фото-графическому рабочему расстоянию всегда учитывается величина смещения. Фокальной плоскости объектива.
Измерение вершинных фокусных расстояний

Измерение на оптической скамье. Вершинные фокусные рас-стояния положительных оптических деталей и систем измеряют на оптических скамьях типа ОСК-2, ОСК-3, а также на скамьях иностранных фирм.
При измерении вершинного фокусного расстояния микроскоп сначала фокусируют на заднюю поверхность контролируемой детали, а затем на изображение сетки, расположенной в фокаль-ной плоскости объектива коллиматора.
В обоих положениях ми-кроскопа снимают отсчеты по шкале с помощью иониуса. Разность отсчетов определяет вершинное фокусное расстояние.
Сетку коллиматора освещают электрической лампой через молочное или матовое стекло и светофильтр.
Фокусировку па поверхность линзы осуществляют по име-ющимся на ней мельчайшим царапинам. Поверхность линзы освещают источником света, располо-женным сбоку.
Если царапины видны плохо, то на поверхность наносят не-сколько пылинок ликоподия, мела или пудры; иногда на поверхность достаточно подышать и затем фоку-сировать по пузырькам воды.
В большинстве случаев достаточ-но применять увеличение микроско-па порядка 20--30х. При измерении отрицательных систем либо объектив микроскопа заменяют длиннофокус-ной положительной линзой, либо весь микроскоп заменяют зрительной тру-бой с положительной насадкой.
В этом случае наблюдательный прибор после наведения на поверхность следует перемещать в сторону коллиматора, а не в противоположную сторону, как это имеет место при измерении положительных систем. Погрешность опре-деления положительных вершинных фокусных расстояний, с превышает 1%, что вполне достаточно для сравнения полученных. результатов с расчетными данными.
Точность определения отри-цательных вершинных фокусных расстояний вообще меньше точности положительных и уменьшается с увеличением абсолютных величин вершинных расстояний.
При испытании хорошо корригированной системы точность измерений можно значительно повысить, если ее не диафрагмировать. В этом случае она зависит от качества коррекции системы и её апертуры.
При достаточно совершенной контр и т.д.................


Перейти к полному тексту работы



Смотреть похожие работы


* Примечание. Уникальность работы указана на дату публикации, текущее значение может отличаться от указанного.