На бирже курсовых и дипломных проектов можно найти образцы готовых работ или получить помощь в написании уникальных курсовых работ, дипломов, лабораторных работ, контрольных работ, диссертаций, рефератов. Так же вы мажете самостоятельно повысить уникальность своей работы для прохождения проверки на плагиат всего за несколько минут.

ЛИЧНЫЙ КАБИНЕТ 

 

Здравствуйте гость!

 

Логин:

Пароль:

 

Запомнить

 

 

Забыли пароль? Регистрация

Повышение уникальности

Предлагаем нашим посетителям воспользоваться бесплатным программным обеспечением «StudentHelp», которое позволит вам всего за несколько минут, выполнить повышение уникальности любого файла в формате MS Word. После такого повышения уникальности, ваша работа легко пройдете проверку в системах антиплагиат вуз, antiplagiat.ru, etxt.ru или advego.ru. Программа «StudentHelp» работает по уникальной технологии и при повышении уникальности не вставляет в текст скрытых символов, и даже если препод скопирует текст в блокнот – не увидит ни каких отличий от текста в Word файле.

Работа № 95901


Наименование:


Курсовик растровая электронная микроскопия.Физический принцип растровой электронной микроскопии

Информация:

Тип работы: Курсовик. Добавлен: 4.4.2016. Сдан: 2013. Страниц: 25. Уникальность по antiplagiat.ru: < 30%

Описание (план):



Введение………………………………………………..3
1.История растровой электронной микроскопии……4
2.Физический принцип растровой электронной микроскопии……………………………………………7
3.Виды растровых электронных микроскопов………10
4.Устройство растровых электронных микроскопов..17
5.Применение растровой электронной микроскопии в криминалистике …………………………………….....20
Заключение………………………………………..........22
Библиографический список…………………………...23
ВВЕДЕНИЕ

В данном курсовом проекте, рассматриваем растровую электронную микроскопию. Развитие быстрыми темпами методов исследования различных анализа, с использованием микроскопии, изучаемых при взаимодействии исследуемого материала с электронами зонда, что и привело нас к использованию общедоступных технических средств в лице микроскопии. В особености активным прогрессированием двигалась растровая электронная микроскопия и созданием различных методов для химического рентгеновского анализа спомощью твердотельных детекторов с энергетической дисперсии. Изучение различных веществ на микроскопическом уровне значительно облегчалось благодаря такому прогрессированию в электронике. Мы понимаем, что при создание растровых микроскопов, располагает так же правильное использование, подход к такому виду микроскопов. Так же для характеристики исследуемых материалов не достаточно только гранулометрического и химического анализа, характеристика требовало более широкого и точного описания в особенности на микро уровне, именно с помощью бурного продвижения микроскопической техники такой метод анализирования стал доступен практически в каждой лаборатории.


1. История растровой электронной микроскопии

История электронной микроскопии, в том числе и растровой, началась с теоретических исследований немецкого ученого Гана Буша о влиянии электронного поля на траекторию заряженных частиц. Позже в 1926 году он сопоставил эти поля с использованием в качестве электронных линз, этим сам установил основные принципы геометрической электронной оптики. В связи с этим, у ученых из Берлинского технического университета Макса Кнолл , Эрнста Руска и Эрнст Бруш из английской лаборатории попробовали это открытие на практических условиях. В результате практических исследований и большим трудам Кнолла и Руска в 1931 году появляется первый просвечивающий электронный микроскоп.
Позже после того как Макс Кнолл перешел в немецкую компанию Telefunken он разрабатывает анализатор электронного пучка, моделирующий необходимые характеристики сканирующего электронного микроскопа где образец исследуемого материала располагался на одной стороне отпаянной стеклянной трубки, а электронная пушка с другой. Фокусирующиеся на поверхности образца электроны, которые были ускоренны напряжением от 600 до 3900 вольт, а система катушек отклоняла их, таким образом, пучок сканировал поверхность образца со скоростью 50 изображений в секунду, а ток, прошедший через образец позволял восстановить изображение его поверхности. Первый прибор, работающий по такому принципу, был создан в 1935 году.
В 1938 году немецкий ученый Манфред фон Арденне создал первый сканирующий электронный микроскоп. Конечно, этот аппарат не был похож на современный растровый электронный микроскоп, так как на нем можно было смотрите только очень тонкие образцы на просвет. По сути это был скорее сканирующий просвечивающий электронный микроскоп, так как Фон Арденне добавил сканирующую систему к просвечивающему электронному микроскопу. Этот прибор включал в себя как регистрационные изображения на кинескопе, так и систематизировал фоторегистрации на пленку, расположенную на вращающемся барабане. С помощью именно сканирующего просвещающего электронного микроскопа, появляется первая микрофотография, которая зафиксировала увеличенный в 8000 тысяч раз кристалл ZnO с разрешением от 50 до 100 нанометров. Изображение состовлялось из растра, для накопления течек 400х400 было необходимо 20 минут.
В 1942 году русский инженер и физик Владимир Зворыкин, работающий в то время в Принстоне США, в лаборатории Radio Corporationof America, опубликовал детали первого сканирующего электронного микроскопа, который позволял проанализировать уже и поверхность массивного образца. В этом микроскопе электронная пушка с вольфрамовым катодом эмитировала электроны, ускоряющиеся напряжением 10 киловольт. Электронная оптика этого аппарата состояла из трех электростатических мушек, а отклоняющиеся катушки располагались между первой и второй линзой этого ми........


Список литературы.
1. < >
2. < >
3. < >
4. < >
5. < >
6. Микроанализ и растровая электронная микроскопия, под редакцией Морис Ф., Мени Л., Тиксье, Франция 1978 г.
7. Практическая растровая электронная микроскопия, под редакцией Дж.Гоудстейна,, Х.Яковица 1978 г.
8.Научная статья “Исследование состава и свойств тонких пленок, полученных методом магнетронного распыления с помощью растровой электронной микроскопии” под редакцией С.В.Сенкевича, А.Г.Канарейкина, Е.Ю.Кантелова и И.П.Пронина.
9. Д.Синдо, Т.Оикава, Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия 2006 г.


Перейти к полному тексту работы


Скачать работу с онлайн повышением уникальности до 90% по antiplagiat.ru, etxt.ru или advego.ru


Смотреть похожие работы

* Примечание. Уникальность работы указана на дату публикации, текущее значение может отличаться от указанного.