Здесь можно найти учебные материалы, которые помогут вам в написании курсовых работ, дипломов, контрольных работ и рефератов. Так же вы мажете самостоятельно повысить уникальность своей работы для прохождения проверки на плагиат всего за несколько минут.
Предлагаем нашим посетителям воспользоваться бесплатным программным обеспечением «StudentHelp», которое позволит вам всего за несколько минут, выполнить повышение оригинальности любого файла в формате MS Word. После такого повышения оригинальности, ваша работа легко пройдете проверку в системах антиплагиат вуз, antiplagiat.ru, РУКОНТЕКСТ, etxt.ru. Программа «StudentHelp» работает по уникальной технологии так, что на внешний вид, файл с повышенной оригинальностью не отличается от исходного.
Работа № 127867
Наименование:
Лабораторка Исследование структуры пленок с помощью электронной микроскопии
Информация:
Тип работы: Лабораторка.
Предмет: Физика.
Добавлен: 13.10.2021.
Год: 2020.
Страниц: 18.
Уникальность по antiplagiat.ru: < 30%
Описание (план):
МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ
ФГБОУ ВО «Уральский государственный экономический университет»
Центр дистанционного образования
Отчет о лабораторной работе по дисциплине «Физика» на тему «Исследование структуры пленок с помощью электронной микроскопии»
Группа: : ИДОЗБУК20пПол
Екатеринбург 2020 Цель работы: ознакомление с работой просвечивающего электронного микроскопа и идентификация веществ по их дифракционным картинам. Приборы и принадлежности: виртуальная модельэлектронного просвечивающего микроскоп, электронно-микроскопи еские образцы, измерительная линейка.
Краткая теория В 1926 г. французский физик Луи де Бройль выдвинул по тому времени необычную гипотезу, что все материальные частицы обладают волновыми свойствами. Согласно де Бройлю с материальной частицей, обладающей импульсом , связано волновое движение, длина волны которого определяется формулой ?=h/mv (1) где = 6,63*10-34 Дж с – постоянная Планка. Для макроскопических тем длина волны, определяемая формулой (1) очень мала (для пылинки массой 1 мг, движутся со скоростью 10 м/c, ~10-27 м ) и существенно меньше минимальных размеров тел, наблюдаемых в природе (размеры ядра атома ~10-15 м), поэтому волновые свойства таких тел в принципе невозможно экспериментально обнаружить. Но в случае микроскопических частиц (например, электронов) их длины волн совпадают с длинами волн рентгеновских лучей и волновые свойства таких частиц легко наблюдать в эксперименте. Гипотеза де Бройля бала быстро подтверждена экспериментально. А именно, показано, что пучки электронов, протонов и даже целых атомов обнаруживают явления интерференции (дифракции) совершенно так же, как рентгеновские лучи. первыми дифракцию электронов при их отражении от монокристалла никеля наблюдали Девиссон и Джермер в 1927 г. Расчет дифракционной картины от кристаллической решетки можно проделать следующим простым способом. Кристалл представляет собой совокупность атомов, упорядоченно расположенных в узлах кристаллической решетки. Отражение волны от плоской поверхности согласно принципу Гюйгенса- Френеля, приводит к тому, что каждая точка поверхности становиться источником вторичных волн, которые интерферируют между собой и дают отраженную волну под углом отражения, равным углу падения. Проведем через узлы решетки параллельные равноотстоящие друг от друга плоскости (рис.1) и рассмотрим электромагнитную волну или поток электронов, падающих под углом на данные плоскости. При отражении волны от семейства плоскостей происходит деление амплитуды первичной волны между вторичными отражениями волны. Если оптическая разность хода вторичных лучей кратна целому числу длин волн, то они усилят друг друга и под углом отражения будет действительно распространяться отраженная волна. Если же кратность отсутствует, вторичные волны ослабляют друг друга и отраженной волны не будет.
Из рис.1 видно, что разность хода между лучами 1 и 2, отраженными от соседних плоскостей равна = AB+BC-AD, (2) где AB+BC=2 / , а AD=2 / , отсюда получаем ?=2d/sin??-2d cos?2 ? ?/sin???=2d sin?? (3) Следовательно, условие отражения волны от системы параллельных плоскостей имеет вид 2d sin??=m?, (4) где d - расстояние между плоскостями; ? - длина волны; m - целое число. Формулу (4) называют формулой Вульфа – Брэгга. Схема экспериментальной установки Теоретически электронный микроскоп подобен световому микроскопу, только вместо стеклянных линз применяются магнитные линзы. На рис.3 для сравнения показаны принципиальные схемы светового (рис.3,а) и электронного (рис.3,б) микроскопов, из него видно, что принцип образования увеличенного изображения объекта у них одинаково. Но электронный микроскоп имеет ряд существенных конструктивных отличи. Наиболее существенное различие между электронами и светом в том, что свет распространяется в воздухе беспрепятственно, тогда как электроны могут распространяться на большие расстояния только в высоком вакууме (давление порядка 104 и 10-5торр). Из этого различия вытекает два существенных требования: область, где перемещаются электроны, должна быть откачана, т.е. микроскоп должен быть соединен с соответствующей вакуумной системой; объект, через который проходят электроны, должны быть очень тонким, иначе все электроны будут в нем задерживаться. В обычном электронном микроскопе толщина образца не должна превышать 100 нм. Кратко рассмотрим работу электронного микроскопа (рис.3,б). тонкий электронный пучок, испускаемый раскаленной вольфрамовой проволокой, ускоряется за счет разности потенциалов 50-100 кВ. Система, состоящая из нити накала и ускоряющих электродов, называется электронной пушкой. Затем электроны проходят через конденсаторную линзу (таких линз, как правило, две), с помощью которой осуществляется регулировка и контроль размера и расхождения пучка.
Рис.3. Ход лучей в оптическом (а) и электронном (б) микроскопах...
* Примечание. Уникальность работы указана на дату публикации, текущее значение может отличаться от указанного.